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            低阻雙電四探針測試儀

            型號:

            更新時間:2022-04-20

            簡要描述:

            低阻雙電四探針測試儀可以測試到1uΩ方阻值,是目前同行業中能測量到的Z小值,采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。

            詳細介紹
            品牌自營品牌價格區間1萬-3萬
            自動化度半自動產地類別國產
            應用領域化工,石油,能源,電子,紡織皮革

             

             

            本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.

            FT-361超低阻雙電四探針測試儀

            一、概述:本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,zui小可以測試到1uΩ方阻值,是目前同行業中能測量到的zui小值,采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成報表;

            雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。選購:本機還可以配合各類環境溫度試驗箱體使用,通過不同的測量治具滿足不同環境溫度下測量方阻和電阻率的需求.

            二、廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等

            三、低阻雙電四探針測試儀參數資料

            1.方塊電阻范圍:10-6~2×102Ω/□

            2.電阻率范圍:10-7~2×103Ω-cm

            3.測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100µA.

            4.電流精度:±0.1%讀數

            5.電阻精度:≤0.3%

            6.顯示讀數:液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率.

            7.測試方式: 雙電測量

            8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:<30W

            9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)

            10.選購功能: 選購1.pc軟件; 2.方形探頭; 3.直線形探頭; 4.測試平臺

            11.測試探頭:  探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

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