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          四點探針測試儀

          型號:

          更新時間:2022-04-20

          簡要描述:

          四點探針測試儀,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具

          詳細介紹
          品牌自營品牌價格區間1萬-3萬
          自動化度半自動產地類別國產
          應用領域化工,能源,電子,汽車,電氣

          FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀
          FT-330 Series common four probe resistance ratio test instrument


          一.    描述Description:
          采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差,提供通訊接口,PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.


          二.四點探針測試儀參照標準standard:
          硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國家標準設計制造;GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.


          三.適用范圍Applicable scope:
          適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析半導體材料質量的工具;液晶顯示,自動測量和系數補償,并帶有溫度補償功能,自動轉換量程;采用AD芯片控制,恒流輸出,選配:PC軟件,保存和打印數據,生成報表
          用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產品


          四.四點探針測試儀型號及參數Models and technical parameters
          規格型model    FT-331    FT-332    FT-333    FT-334    FT-335    FT-336
          1.方塊電阻范圍Sheet resistance     10-5~2×105Ω/□    10-4~2×105Ω/□    10-3~2×105Ω/□    10-3~2×104Ω/□    10-2~2×105Ω/□    10-2~2×104Ω/□
          2.電阻率范圍Resistivity     10-6~2×106Ω-cm    10-5~2×106Ω-cm    10-4~2×106Ω-cm    10-4~2×105Ω-cm    10-3~2×106Ω-cm    10-3~2×105Ω-cm
          測試電流范圍
          Test current     0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA    10μA,100µA,1mA,10mA,100mA    0.1μA ,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA    10μA,100µA,1mA,10mA,
          100mA    0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA    1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA
          4.電流精度 Current accura    ±0.1%     ±0.2%     ±0.2%     ±0.3%     ±0.3%     ±0.3% 
          5.電阻精度Resistance     ≤0.3%    ≤0.3%    ≤0.3%    ≤0.5%    ≤0.5%    ≤0.5%
          6.顯示讀數display    液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
          7.測試方式test mode    普通單電測量
          8.工作電源power    輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W 
          9.誤差errors    ≤4%(標準樣片結果 Standard Sample results)
          10.選購功能choose to buy    選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標準電阻

          11.測試探頭Test probe    探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規格; 探針材質選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球

           

          溫馨提示:半導體材料測量,我們提供四探針法,低阻,高阻,雙電組合法,普通單電法,以及高溫電阻率測試儀系列,歡迎和我們保持聯系---瑞柯儀器

           


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